
ICP-MS 方法開發與轉移
Ultra-trace Analytics 提供 ICP-MS / ICP-MS/MS 方法開發、方法確效與技術轉移服務,適用於半導體常見基質、高純化學品、UPW、酸鹼溶液、溶劑、清洗液與製程材料。視基質種類、目標元素、前處理方式、空白控制、儀器配置與客戶實驗室條件,可開發 sub-ppt 至 ppt level 的微量金屬分析方法。
材質: N/A (Service)

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Ultra-trace Analytics 提供 ICP-MS / ICP-MS/MS 方法開發、方法確效與技術轉移服務,適用於半導體常見基質、高純化學品、UPW、酸鹼溶液、溶劑、清洗液與製程材料。視基質種類、目標元素、前處理方式、空白控制、儀器配置與客戶實驗室條件,可開發 sub-ppt 至 ppt level 的微量金屬分析方法。
材質: N/A (Service)

Ultra-trace Analytics 提供液體化學品超微量分析服務,適用於各類半導體化學品、高純酸鹼、電子級溶劑、UPW、清洗液、蝕刻液、電鍍液與製程液體。可依樣品與分析目的評估 GC-MS、ICP-MS、DMA-CPC、IC 等技術,分析金屬、有機物、離子與粒子相關污染。
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Ultra-trace Analytics 提供 GC-MS 委測分析服務,適用於半導體有機溶劑與高潔淨化學品,包括 IPA、OK73、nBAC 等常見有機液體。可依樣品基質與分析目的評估有機雜質、未知峰、批次差異與 trace organic contamination 分析。
材質: N/A (Service)

Ultra-trace Analytics 提供 ICP-MS / ICP-MS/MS 委測分析服務,適用於半導體與化學工業常見液體,包括高純化學品、UPW、酸鹼液、溶劑、清洗液、蝕刻液與電鍍液。視樣品種類、基質、目標元素、前處理方式、空白控制與儀器條件,可評估 ppq 至 ppt level 的微量金屬分析能力。
材質: N/A (Service)
適用於微量分析、化學品取樣、樣品保存與前處理流程,降低容器與接觸材料造成的背景污染風險。
查看分類提供晶圓搬運、保存、清潔度管理與實驗室測試所需的晶圓載具與相關配件,支援研發、驗證與分析流程。
查看分類提供高潔淨實驗室流程所需的輔助治具、操作用品與耗材,協助提升取樣、清洗、保存與測試流程的一致性。
查看分類依照客戶的尺寸、材質、樣品型態、設備介面與操作流程,協助設計或開發客製化實驗室器具、治具與耗材方案。
查看分類服務內容涵蓋樣品收件前溝通、分析規劃、結果回饋與後續建議。
透過明確的資料整理與樣品準備,可提升委測效率與可解讀性。