Ultra-Trace Analytics 是一家專注於 半導體微汙染（micro-contamination） 的技術公司，提供從 顆粒/金屬/離子等污染物分析、污染溯源 到 改善方案落地 的一站式服務，協助客戶提升良率、降低未知污染風險，並縮短問題排查時間。

我們相信：真正有價值的分析，不只是一份報告，而是能讓工程團隊「找到原因、做出改善、持續穩定」的結果。

根據半導體製程與化學品/材料使用情境，我們提供以下類型的微汙染解決方案：

1) 微量/超微量污染物分析

• 金屬污染：超微量金屬元素分析、金屬背景控制、溶出風險評估
• 離子污染：陰/陽離子、酸鹼鹽類殘留、清洗製程殘留
• 顆粒/奈米顆粒：粒徑分佈、顆粒來源推估、過濾策略建議
• 有機污染：TOC、特定有機物風險評估

我們支援的樣品型態（如：UPW、化學品、溶劑、清洗液、Parts浸泡液等）。

2) 汙染溯源與改善方案

• 根因分析（RCA）：從數據、製程節點、物料與環境條件交叉比對，找出污染可能來源
• 改善導入：協助評估【過濾/材料/清洗/取樣與運輸/儀器背景】等風險並提出可執行方案
• 驗證與追蹤：改善前後比較、週期性監測建議、建立內部 SOP 與管控指標

3) 顧問與客製化專案

• 新製程/新材料導入前的污染風險評估
• 化學品/耗材供應鏈的品質標準與驗收規格制定
• 問題發生時的快速支援

我們常見的合作對象包含：

• 半導體晶圓廠、先進封裝、製程/良率/廠務與分析團隊
• 化學品供應商、材料供應商、濾材/管路/耗材供應鏈
• 第三方檢測需求與稽核/驗證專案

常見需求例如：

• 不明顆粒暴增、金屬背景異常、離子污染導致製程漂移
• UPW/化學品/溶劑背景控制與入料驗收
• 取樣/瓶材/運輸造成的假訊號（false positive）排除

• 聚焦半導體微汙染：我們以「可解決問題」為目標，從分析到改善都懂工程語言
• 重視背景與可靠度：從取樣、前處理到數據判讀，強調一致性與可追溯性
• 落地導向：提供可執行的改善建議與驗證方式，而不只是數據解讀
• 保密與專業：尊重客戶機密與資料安全，支援 NDA/專案保密流程