
超高クリーン PFA/PTFE ラボ器具・消耗材
微量分析、薬品サンプリング、試料保管、前処理に適し、接触材質由来のバックグラウンド汚染リスクを低減します。
関連製品を見るUltra-Trace Analytics
半導体・高クリーン実験室向けに、サンプリングから保存・分析までの背景汚染リスク低減を支援します。

微量分析、薬品サンプリング、試料保管、前処理に適し、接触材質由来のバックグラウンド汚染リスクを低減します。
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高クリーン環境におけるウェハ保管・搬送・シングル運用向けキャリアです。
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試料分析要件の整理、委託計画、結果解釈を支援し、材料・化学品・工程液・異常解析に対応します。
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高クリーンな酸・アルカリ・溶剤運用と日常ラボ作業向けの治具・用品・消耗材です。
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工程条件、材質適合性、寸法、清浄度要件に基づく PFA/PTFE ラボ用品のカスタム対応。
関連製品を見るサービス|微量分析サービス
Ultra-trace Analytics は ICP-MS メソッド開発と技術移転を提供します。複雑マトリックスに対する分析メソッドの設計、検量、SOP 整備、ラボ間転送、トレーニングを通じて、業務の標準化と再現性向上を支援します。
製品を見る材質|High-purity PFA · 分類|PFA/PTFE 超高純度クリーンウェア
半導体高クリーンプロセス、微量金属分析、薬品サンプリング、サンプル保管に対応する高純度 PFA 広口試薬瓶。60 / 100 / 250 / 300 / 500 / 1000 / 2000 mL を提供します(250 mL 以上は GL45 ネジ口)。
製品を見る材質|PFA · 分類|PFA/PTFE 超高純度クリーンウェア
PFA 製の高純度サンプリングスプーン。粉体、顆粒、結晶、少量サンプルの取扱いに適し、低背景汚染を要する半導体材料分析や微量分析でも使用できます。
製品を見る材質|シリコンウェハ基板 · 分類|ウェハーキャリア関連製品
Spin-Cal 表面パーティクル標準ウェハ。SP1、Surfscan などのウェハ表面検査装置の校正、パーティクル粒径と濃度のリファレンス、半導体クリーン度モニタリングに適します。
製品を見る材質|High-purity PFA / PEEK · 分類|PFA/PTFE 超高純度クリーンウェア
マイクロ波分解装置に対応する PFA バイアル。耐圧・耐温設計で、ICP-MS / ICP-OES 前処理での酸分解工程に適します。容量と仕様は装置メーカーごとにお選びいただけます。
製品を見る材質|PFA · 分類|ウェハーキャリア関連製品
PFA 製の単片ウェハキャリアボックス。1 枚のウェハ、シリコン片、chip、die、半導体サンプルの保管・運搬に適します。半透明で内部視認可能、PFA 蓋付属、高クリーン・低汚染要件のアプリケーションに対応します。
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