ICP-MS 靈敏度下降、背景偏高?用 Sample Cone & Torch 清洗治具把「孔徑損傷與交叉污染」降到最低

Cone & Torch清洗治具使用指南

· ICPMS,實驗室器具

在 ICP-MS 的日常維護裡,Sample Cone / Skimmer Cone / Quartz Torch 是最容易影響量測品質、也最容易「被清壞」的三個關鍵零件:
清不乾淨 → 背景值高、記憶效應加重;
清洗方式不一致或碰撞 → Cone 孔徑受損、靈敏度下滑,甚至越清越糟。

Ultra-Trace 的 ICP-MS Sample Cone & Torch 專用清洗治具,目的就是把「清洗時的固定、浸泡、超音波」流程標準化:提供穩固支撐平台,降低超音波清洗時碰撞導致孔徑擴大/刮傷的風險,並讓每次清洗結果更一致。

你可能遇到的症狀:其實是 Cone / Torch 需要「標準化清洗」

以下狀況常見、而且多半會越拖越嚴重:

  • 靈敏度逐步變差(同樣條件下 counts 下降)
  • 背景值偏高、空白不乾淨
  • 記憶效應(carryover)變嚴重:高濃度跑完,低濃度還殘留
  • 氧化物/雙電荷干擾增加(視機台/條件而定)
  • Torch 端 難以清潔、殘留晶體或結垢,拆裝不順

這時候「隨手泡酸、隨手刷」通常不是解法,因為 Cone 的孔徑與表面非常敏感,操作稍不一致就可能把孔徑越洗越大、或留下刮痕,直接影響靈敏度與穩定性。

1) 固定 Cone/Torch,避免超音波碰撞造成孔徑傷害

核心設計點是「穩固支撐」:把 Cone 與 Torch 放在指定槽位/固定座中,降低清洗時晃動、碰撞、孔徑受損的機率,讓清洗更可控。

2) 兼容常見零件材質與化學清洗液

適用對象包含 Sample Cone、Skimmer Cone(Pt/Ni)與 Quartz Torch(含一體式或可拆 injector);治具材質為高純度 PTFE 或 PEEK,並標示可耐多種常用酸與溶劑(如 HNO₃、HCl、HF、H₂SO₄、IPA、PGMEA/PGME 等)。

#這對實驗室很重要:你可以把「清洗液策略」與「固定方式」都 SOP 化,而不是每個人各洗各的

流程概覽

Step 1|前處理:先把“可見污染”處理掉

Step 2|安裝治具:最小接觸面積

Step 3|浸泡+超音波

Step 4|沖洗:把殘酸徹底拿掉

Step 5|乾燥:用乾淨氮氣吹乾孔洞與夾層

Step 6|治具本體清潔與收納

#詳細操作指引,請聯繫超微分析取得細節流程說明書。

導入後你會看到的改善

  • Cone 清洗結果更一致:背景下降更穩、空白更乾淨
  • 降低孔徑損傷風險:靈敏度衰退變慢、維護成本下降
  • 記憶效應更可控:高濃度樣品後的 carryover 更容易被清乾淨
  • Torch 清潔更規範:殘留晶體/結垢導致的拆裝不順機率下降

Troubleshooting

零件在治具中晃動:固定座未鎖緊或治具規格不符 → 重新調整固定位置並確認型號相容。

清洗後背景仍高:治具本體可能被污染 → 依說明書建議,可將「空治具」以 10% HNO₃ 浸泡清洗。

Torch 難插入/拔出:治具孔徑可能有結晶堆積 → 以溫熱 DI Water 浸泡溶解結晶。

FAQ

Q1:為什麼超音波只建議 1–2 分鐘?
A:超音波時間過長可能擴大 Cone 孔徑,造成靈敏度下降;污染嚴重時建議更換清洗液後重複短時間清洗。

Q2:Cone 孔徑可以用刷子清嗎?
A:不建議。孔徑精密,避免硬物接觸,也不建議用金屬刷具,以免刮傷或改變孔徑形貌。

Q3:治具本身需要保養嗎?
A:需要。定期檢查治具是否裂痕/磨耗、避免交叉污染;清洗治具時用溫和清潔方式,避免研磨性工具。