
半導體微汙染解決方案:
從分析到改善,一次到位
我們提供 顆粒、金屬、離子 等污染物分析、汙染溯源(RCA) 與改善導入,協助工程團隊縮短排查時間、穩定製程、提升良率。
我們能解決什麼
常見問題情境
- 顆粒異常暴增、製程良率突然波動,找不到污染源
- 金屬背景或離子污染導致製程漂移、數據不穩
- 化學品/溶劑/UPW 入料驗收缺乏可用指標,供應鏈風險難控
- 取樣、瓶材、運輸造成假訊號(false positive),分析結果難以決策
你需要的不是更多數據,而是「能落地的答案」:我們的目標是讓分析結果能直接支持工程判斷與改善行動。
核心服務
超微分析科技提供微汙染分析方面全方位服務,包含委託分析、RCA分析、諮詢改善方案、微量分析各式硬體及耗材服務
1) 微量/超微量污染物分析
- 目標:釐清污染類型、濃度與風險
- 常見項目:金屬 / 離子 / 顆粒 / 有機污染(TOC 等)
- 產出:分析報告+判讀重點+下一步建議
2) 汙染溯源(RCA)與根因分析
- 交叉比對:製程、物料批次、環境與設備條件
- 形成假設 → 驗證 → 收斂可行根因
- 建立可追蹤的問題排查路徑,降低反覆試錯成本
3) 改善方案導入與驗證
- 針對【過濾、材料選型、清洗/前處理、取樣流程、背景污染】提出改善建議
- 可協助:改善前後對比、週期性監測、驗收指標制定
4) 實驗室及微汙染分析相關產品與耗材
- 協助降低背景污染、提升數據穩定性
- 產品包含:UPW/超純水系統、清洗治具、瓶材/容器、樹脂/濾材
- 讓改善方案能真正落地並長期維持
依情境提供方案
探索我們在微污染和超微量分析方面的專業能力。
情境 A:製程異常與未知污染快速排查
你會得到:問題框架+最小化驗證路徑(先排除最大變因)
適用:顆粒暴增、金屬/離子異常、良率不明下降
情境 B:化學品/溶劑/UPW 入料驗收與供應鏈風險管理
你會得到:驗收項目建議、規格/門檻設定、異常追蹤方法
適用:供應商切換、新批次驗證、長期穩定監控
情境 C:新材料/新製程導入前的污染風險評估
你會得到:風險清單、關鍵指標、試驗設計與驗證計畫
適用:新配方、新耗材、新清洗液、新設備導入
情境 D:分析背景過高、結果不穩(想把背景降下來)
你會得到:取樣/容器/前處理/用水/清洗流程的系統性檢查
適用:超微量分析、低濃度訊號、重現性不足
我們怎麼合作
- 需求確認:樣品型態/目標項目/判定標準/時程
- 取樣建議:提供取樣 SOP、容器/運輸注意事項(降低背景污染)
- 分析與品質控管:依專案需求執行必要的 blank/control、重複性檢核
- 結果解讀與建議:判讀重點、風險、可能來源與改善方向
為什麼選擇 Ultra-Trace Analytics
- 聚焦半導體微汙染:懂工程語言,報告能直接支援決策
- 重視背景與可靠度:從取樣到分析判讀都以降低假訊號為優先
- 落地導向:不只提供數據,更提供改善與驗證方案
- 保密與專業:支援 NDA、資料安全與專案保密流程
我們相信真正的微汙染管理,是「可量測、可追蹤、可改善、可維持」。
