跨儀器結果不一致
同一樣品在不同平台可能出現差異，需以標準品建立一致性。
产品项目
15 nm Fe 奈米粒径校正标准品｜Fe Nanoparticle Size Calibration Standard
Fe Nanoparticle Size Calibration Standard, 15 nm
用於奈米粒徑量測、材料研究與儀器 performance check 的 Fe-based nanoparticle 參考標準品。
- • 15 nm nominal particle size
- • 適合 SEM / TEM / SP-ICP-MS / DLS / NTA
- • 可依批次提供 CoA / size distribution report
材质: Lab-grade
应用场景
奈米粒径量测校正SEM / TEM 影像尺寸參考SP-ICP-MS 方法开发半导体微粒污染分析实验室日常 QC check
可选规格
欢迎提供场景、材质、容量或尺寸需求，我们可协助确认方案。
产品说明
Ultra Trace Analytics 提供 15 nm Fe nanoparticle standard，适用于 SEM、TEM、SP-ICP-MS、DLS、NTA 的粒径校正、方法开发与儀器确认。
問題導向：為什麼需要粒徑校正標準品？
方法開發缺乏尺寸參考
Fe nanoparticle 可作為奈米尺度比對依據，降低方法轉移風險。
主要特色
奈米尺度校正參考
15 nm 標稱粒徑，適合建立粒徑量測基準。
多方法適配
可用於 SEM、TEM、AFM、DLS、NTA 與 SP-ICP-MS。
支援微污染分析
可用於半導體與金屬奈米粒子污染研究。
文件可討論
批次資訊、CoA 與粒徑分布資料可依供應規格確認。
應用情境
半導體 / 微污染分析
- • 奈米微粒風險評估
- • 方法驗證與跨儀器比較
材料與研究實驗室
- • SEM/TEM 尺寸參考
- • DLS/NTA 比對與日常 QC
典型規格 / 可選項目 / 客製項目
| 產品名稱 | 15 nm Fe 奈米粒徑校正標準品 |
|---|---|
| 英文名稱 | Fe Nanoparticle Size Calibration Standard, 15 nm |
| 顆粒材質 | Fe-based nanoparticle / Iron nanoparticle |
| 標稱粒徑 | 15 nm |
| 供應型態 | 懸浮液或乾式標準品，可依需求確認 |
| 基質 | 水相或指定分散介質，可依應用確認 |
| 濃度 | 依批次或客戶需求確認 |
| 文件 | 可提供批次資訊 / CoA / size distribution report |
| 適用分析 | SEM、TEM、SP-ICP-MS、DLS、NTA、AFM |
| 適用用途 | 粒徑校正、方法開發、儀器確認、奈米材料研究 |
歡迎提供分析方法與目標濃度，我們可協助確認合適 Fe nanoparticle calibration standard。
FAQ
15 nm Fe nanoparticle standard 適合哪些分析方法？
常見用於 SEM、TEM、SP-ICP-MS、DLS、NTA、AFM 與奈米粒子研究流程。
可以用於 SEM 或 TEM 粒徑校正嗎？
可以，常用於影像尺寸參考與跨批次量測一致性確認。
是否適合 SP-ICP-MS 奈米粒子分析？
可作為方法開發與 performance check 的參考標準品。
有提供 CoA 或粒徑分布資料嗎？
可依供應規格與批次提供相關文件。
濃度與分散介質可客製嗎？
可依應用需求討論確認。
需要 15 nm Fe nanoparticle standard 的完整規格與報價？
請提供儀器平台與應用情境，Ultra Trace Analytics 可協助選型、規格確認與採購評估。