方鏟
- 型式
- 200
- 材質
- 200
- 寸法
- 200
- 備考
- 鏟高 120 mm
用途
高潔淨實驗室粉體與固體樣品取樣半導體化學品與高純材料取樣ICP-MS / 痕量金屬分析樣品前處理腐蝕性樣品、酸鹼環境或高純材料操作粉末、顆粒、晶體、固體殘留物轉移需要降低金屬污染風險的取樣與分裝流程
選択可能な仕様
| 仕様 | 型式 | 材質 | 寸法 | 備考 |
|---|---|---|---|---|
| 方鏟 | 200 | 200 | 200 | 鏟高 120 mm |
| 方鏟 | 200 | 200 | 200 | 鏟高 60 mm |
| 方鏟 | 200 | 100 | 200 | 鏟高 110 mm |
| 方鏟 | 120 | 120 | 200 | 鏟高 80 mm |
| 圓鏟 | 200 | 185 | 70 | 鏟高 70 mm |
| 平鏟 | 282 | 上寬 90 / 下寬 124 | 180 | 平鏟規格 |
方鏟
- 型式
- 200
- 材質
- 200
- 寸法
- 200
- 備考
- 鏟高 60 mm
方鏟
- 型式
- 200
- 材質
- 100
- 寸法
- 200
- 備考
- 鏟高 110 mm
方鏟
- 型式
- 120
- 材質
- 120
- 寸法
- 200
- 備考
- 鏟高 80 mm
圓鏟
- 型式
- 200
- 材質
- 185
- 寸法
- 70
- 備考
- 鏟高 70 mm
平鏟
- 型式
- 282
- 材質
- 上寬 90 / 下寬 124
- 寸法
- 180
- 備考
- 平鏟規格
製品説明
PTFE サンプリングショベル（PTFE Shovel）は、高クリーン実験室、半導体薬液、粉体・固体サンプルの採取工程に適したツールです。PTFE 材質は耐酸・耐アルカリ性、耐腐食性、低金属バックグラウンド特性を備え、金属製や一般樹脂製ツール由来の汚染リスク低減に有効です。角形・丸形・平形の各タイプに対応し、用途に応じたカスタムも可能です。
主要特色
PTFE 材質
具良好耐酸鹼與耐腐蝕特性。
低金屬背景
適合痕量分析、高潔淨取樣與半導體相關應用。
多樣樣品取樣
適用於粉體、固體、顆粒、腐蝕性材料與高純化學品樣品取樣。
多種鏟型
提供方鏟、圓鏟、平鏟等形式。
流程應用
可用於樣品轉移、秤量前處理、容器取樣與實驗室分裝流程。
客製能力
可依需求客製尺寸、鏟面形狀、柄長與鏟高。
材質與使用注意事項
PTFE 具良好耐腐蝕特性，適合多數酸鹼與腐蝕性樣品操作情境。實際使用前仍建議依樣品種類、濃度、溫度、接觸時間、取樣量、鏟面尺寸、清洗方式與分析目標確認適用性。若應用於痕量分析或高潔淨流程，建議搭配適當清洗與空白管控程序，以降低背景污染風險。
- ☑ 可提供方鏟、圓鏟、平鏟等鏟面形式
- ☑ 可客製尺寸、柄長與鏟高
- ☑ 詢問時可提供樣品類型、取樣量、容器尺寸與操作條件
詢問與客製
若需確認 PTFE 取樣鏟是否適用於特定粉體、固體樣品、容器尺寸、取樣量、清洗流程或痕量分析應用，歡迎提供使用條件、目標尺寸與鏟面形式，我們可協助確認規格與客製可行性。