精準奈米量測的關鍵基準

Fe 15 nm Nanoparticle Size Calibration Standard 是專為奈米尺度量測與儀器校正所設計的高穩定性鐵（Fe）奈米粒子標準品，平均粒徑 15 nm，具備高度一致的粒徑分佈與優異的批次再現性，可作為多種奈米分析技術的尺寸校正與效能驗證基準。

本產品特別適用於半導體製程、先進材料分析、奈米顆粒檢測、表面分析與研究實驗室，確保量測結果具備可追溯性與可信度。

「產品特色（Key Features）」
1. 標稱粒徑：15 nm（Fe Nanoparticles）
精確控制的奈米粒徑，適合作為中小尺寸奈米量測校正點。
2. 公信力單位認證：經由SGS、工研院等單位認證
3. 窄粒徑分佈（Narrow Size Distribution）
降低量測不確定性，提高儀器校正準確度。
4. 高批次一致性（Lot-to-Lot Consistency）
適合長期量測監控與標準化流程。
5. 適用多種量測技術
可用於 SEM、TEM、AFM、DLS、SPM、光學與光譜相關奈米量測系統。
6. 穩定化表面處理
降低團聚風險，提升保存與操作穩定性。

「典型應用（Applications）」
1. 奈米粒徑量測系統校正（Nanoparticle Size Calibration）
2. 半導體污染物與顆粒監控
3. 奈米材料研發與品質控管（QC）
4. 學術研究與標準驗證實驗
5. 新型量測設備效能驗證（Tool Qualification）
6. sp-ICPSM / SNP-ICPMS 分析尺寸標準品

「為什麼選擇 Fe 15 nm 校正標準品？」
在奈米尺度下，即使數奈米的誤差都可能導致量測結果偏差或製程判斷錯誤。使用可靠的 15 nm 鐵奈米粒子校正標準，能有效：
提升儀器量測可信度
確保不同設備、不同時間點的數據可比較性
滿足高階製程與研發對精度的嚴格要求

產品規格（Typical Specifications）
材質: 氧化鐵
標稱粒徑 :15 nm
粒徑分佈 : 窄分佈
形式: 分散液
應用領域: 奈米量測、半導體、材料分析、儀器分析

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