ICP-MS 메소드 개발·기술 이전 서비스
Ultra-trace Analytics는 ICP-MS 메소드 개발과 기술 이전을 제공합니다. 복잡 매트릭스에 대한 분석 메소드 설계, 검량, SOP 정비, 랩 간 이전, 트레이닝을 통해 업무 표준화와 재현성 향상을 지원합니다.
재질: N/A (Service)
ICP-MS method developmentmethod transferICP-MS 위탁 서비스
미량 분석 서비스
미량 분석 위탁 서비스
Trace Analysis Service
시료 분석 요구 정리, 위탁 시험 계획, 결과 해석을 지원하며 재료, 화학품, 공정액, 이상 분석에 대응합니다。
사양 문의
적용 분야
ICP-MS 분석GC-MS 분석메소드 개발공정 오염 분석
제품 항목
검색 재질 / 적용 분야
표시 4 / 4 제품 항목
GC-MS 위탁 분석 서비스
Ultra-trace Analytics는 GC-MS 위탁 분석 서비스를 제공합니다. 반도체 유기 용제 및 고청정 화학물(IPA, OK73, nBAC 등)에 대응하며, 미량 유기 오염, 불순물 식별, 공급사 재료 검증, 공정 오염 분석을 지원합니다.
재질: N/A (Service)
GC-MS 위탁 분석trace organic contamination반도체 용제 분석
ICP-MS 위탁 분석 서비스 (반도체, ppq 클래스)
Ultra-trace Analytics는 반도체급 ICP-MS 위탁 분석을 제공합니다. 고순도 화학물, UPW, 전자급 용제, 세정액, 에칭액, 도금액 등 다양한 매트릭스에 대응하며, ppt~ppq 클래스 미량 금속 분석, 메소드 개발, 랩 간 이전을 지원합니다.
재질: N/A (Service)
ICP-MS 위탁 분석semiconductor ICP-MSppq trace analysis
액체 화학물 초미량 분석 서비스
Ultra-trace Analytics는 액체 화학물 초미량 분석 서비스를 제공합니다. 반도체 화학물, 고순도 산·알칼리, 전자급 용제, UPW, 세정액, 에칭액, 도금액, 공정 액체에 대응하며, 시료와 분석 목적에 따라 GC-MS, ICP-MS, DMA-CPC, IC 등의 기법을 평가하여 금속, 유기물, 이온, 입자 관련 오염을 분석합니다.
재질: —
초미량 분석Ultra-trace AnalysisTrace Analysis Service
관련 카테고리
초고청정 PFA/PTFE 실험실 기구 및 소모품
미량 분석, 화학 샘플링, 시료 보관 및 전처리 공정에 적합하며 접촉 재질로 인한 배경 오염 위험을 낮춥니다。
카테고리 보기웨이퍼 및 관련 캐리어
고청정 환경에서 웨이퍼 보관, 이송, 단일 웨이퍼 운용을 위한 캐리어 솔루션입니다。
카테고리 보기실험실 지그·용품·소모품
고청정 산/알칼리/용제 운용 및 일상 실험실 작업을 위한 지그·용품·소모품입니다。
카테고리 보기맞춤형 실험실 용품
공정 조건, 재질 적합성, 치수, 청정도 요구사항에 맞춘 PFA/PTFE 맞춤 제작을 지원합니다。
카테고리 보기미량 분석 서비스는 반도체 화학물, UPW, 전자급 용제, 세정액, 에칭액, 도금액, 공정 액체에 대응하며, ICP-MS, GC-MS, DMA-CPC, IC 등의 기법으로 금속, 유기물, 이온, 입자에 관한 오염을 분석합니다.
메소드 개발, 기술 이전, 공정 오염원 분석, 공급사 재료 검증에 대해서도 상담 가능합니다.