적용 분야
분말·과립 샘플링소량 샘플 취급미량 분석 시료 조제고청정 실험 조작
선택 가능한 사양
적용 조건, 재질, 용량, 크기 요구사항을 알려 주세요.
제품 설명
PFA제 고순도 샘플링 스푼. 분말, 과립, 결정, 소량 샘플 취급에 적합하며, 저백그라운드 오염을 요하는 반도체 재료 분석이나 미량 분석에서도 사용 가능합니다.
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PFA제 고순도 샘플링 스푼. 분말, 과립, 결정, 소량 샘플 취급에 적합하며, 저백그라운드 오염을 요하는 반도체 재료 분석이나 미량 분석에서도 사용 가능합니다.