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초순수용 붕소 제거 수지|UPW Boron Removal Resin

초순수 폴리싱용 붕소 선택성 이온 교환 수지. 반도체 UPW, DI water, ICP-MS 미량 분석용수에 적합하며, 카트리지·컬럼·Point-of-Use 폴리싱 모듈로 통합하여 붕소 백그라운드 간섭 저감을 지원합니다.

재질: Boron selective chelating resin (모델 및 구성에 따라 확인)

초순수용 붕소 제거 수지|UPW Boron Removal Resin

적용 분야

반도체 UPW 폴리싱DI water 붕소 제거ICP-MS 용수 붕소 백그라운드 저감Point-of-Use 폴리싱미량 분석용수 전처리저붕소 UPW 품질 관리PuriLab 초순수 박스 모듈

선택 가능한 사양

적용 조건, 재질, 용량, 크기 요구사항을 알려 주세요.

제품 설명

초순수 폴리싱용 붕소 선택성 이온 교환 수지. 반도체 UPW, DI water, ICP-MS 미량 분석용수에 적합하며, 카트리지·컬럼·Point-of-Use 폴리싱 모듈로 통합하여 붕소 백그라운드 간섭 저감을 지원합니다.

超純水用除硼樹脂|UPW Boron Removal Resin

針對半導體 UPW、DI water polishing 與 ICP-MS trace analysis 設計的 Boron selective resin,可作為既有超純水系統後端、Point-of-Use polishing cartridge 或終端 polishing module,協助降低水中 Boron 背景干擾。此產品定位為 boron selective ion exchange resin / trace analysis water polishing resin,適合與 PuriLab 超純水盒、低金屬樹脂與終端過濾配置整合。

為什麼高純水流程仍需要除硼拋光?

18.2 MΩ·cm 不等於 Boron 一定夠低

在半導體與高階 trace analysis 應用中,Boron 是常見但不易控制的背景元素。即使電阻率達 18.2 MΩ·cm,仍可能受樹脂、管路、儲槽、玻璃接觸或環境條件影響而出現 Boron 背景波動。

Boron 可能影響 blank 與數據穩定性

對 ICP-MS、ICP-QQQ、UPW 監控、wafer cleaning 與低背景樣品前處理而言,Boron background 可能影響 method blank、detection limit 與再現性。除硼樹脂可作為最後一段 polishing media,降低末端水路貢獻。

除硼樹脂核心價值

專為低硼 UPW polishing 設計

聚焦 UPW / DI water 中 Boron 背景控制,可作為既有系統後端除硼拋光選項,適用於半導體製程用水、高潔淨實驗室與分析端用水管理。

Boron selective resin

採硼選擇性官能基設計方向,適合一般混床樹脂較難穩定控制的 Boron 情境;可協助降低 Boron background,實際效果需依條件評估。

支援 Point-of-Use 終端配置

可做成 cartridge、column 或 point-of-use polishing module,安裝於 UPW loop 使用點、ICP-MS 前處理區或桌上型超純水機後端。

可依水質與目標客製

可依進水 Boron 濃度、流量、pH、silica、TOC、residence time 與壽命需求調整樹脂量、接頭、模組尺寸與更換週期。

應用場景(Application Scenarios)

半導體與 UPW 水路

  • 半導體 UPW boron polishing
  • DI water boron removal
  • 半導體製程水低硼控制
  • Wafer cleaning rinse water polishing
  • UPW loop 使用點改善

ICP-MS / Trace Analysis

  • ICP-MS blank water preparation
  • ICP-QQQ / ICP-MS Boron background reduction
  • Trace metal analysis 用水拋光
  • 標準液與樣品稀釋用水
  • 低背景分析實驗室用水管理

高潔淨樣品製備

  • PFA labware 最終沖洗水
  • 高純化學品稀釋用水
  • 製藥 / 材料 / 電子級水質 QC
  • 超微量分析用水除硼
  • 半導體微污染分析用水

模組化整合

  • Point-of-Use UPW polishing cartridge
  • cartridge / column / module 配置
  • PuriLab 超純水盒除硼配置
  • 可與 1 nm / 5 nm 終端過濾整合
  • 可搭配 ICP-MS 前後水樣測試

選型 / 導入建議

導入 UPW boron removal resin 前,建議先建立前後端水質基準與使用情境,以利評估樹脂配置與更換策略。

  • 目前進水來源:Facility UPW、DI water 或桌上型超純水機
  • 目前 Boron 背景濃度與波動範圍
  • 目標 Boron 濃度或內部水質規格
  • 每日用水量與瞬間流量需求
  • 水中 silica、TOC、metal ions、pH 與其他壽命影響因子
  • 是否需要與 1 nm / 5 nm 終端過濾整合
  • 是否需要 PFA / PP / HDPE 低溶出接液材質
  • 是否需要前後端 ICP-MS 水質比較與 breakthrough curve 監控

典型規格 / 可依水質與配置確認

產品名稱超純水用除硼樹脂
英文名稱Boron Removal Resin for Ultrapure Water
產品類型Boron selective resin / UPW polishing resin
樹脂功能降低水中 Boron / borate / boric acid 相關背景
適用水源UPW、DI water、18.2 MΩ·cm lab ultrapure water
適用配置Cartridge、column、Point-of-Use polishing module、PuriLab 超純水盒
目標應用ICP-MS blank、trace analysis water、semiconductor UPW、wafer cleaning rinse water
典型功能基Boron selective chelating functional group,可依供應型號確認
供應型態散裝樹脂、濾芯填充、cartridge、客製純化模組
建議材質搭配PFA、PP、HDPE 或低溶出接液材質,依潔淨需求確認
建議監控進出水 Boron、金屬背景、電阻率、TOC、流量與使用時間
文件可依需求討論批次資料、CoA、前後水樣測試報告
客製項目樹脂量、cartridge 尺寸、接口、流量、接液材質、前後段過濾配置

註:除硼效果非固定保證值,需依進水 Boron 濃度、pH、流量、接觸時間、樹脂量、其他離子與 TOC 等系統條件評估。

超純水用除硼樹脂可作為獨立 cartridge,也可整合至 PuriLab 超純水盒或其他 Point-of-Use polishing module。歡迎提供進水 Boron 條件與目標規格,討論合適配置。

FAQ

超純水用除硼樹脂是什麼?

此產品是面向半導體 UPW、DI water polishing 與 ICP-MS trace analysis 的 boron selective polishing resin,可用於系統後段或使用點降低 Boron 背景。

為什麼 18.2 MΩ·cm 超純水仍可能需要除硼?

18.2 MΩ·cm 主要反映電阻率,不代表所有元素皆達 ultra-trace level。Boron 仍可能因系統條件、材質與末端水路而偏高。

Boron 為什麼在 UPW 系統中較難去除?

Boron 在水中行為與一般金屬離子不同,常見混床流程對其控制可能有限,因此常需以 boron selective resin 做終端拋光。

這款除硼樹脂適合用於半導體 UPW 嗎?

適合用於半導體 UPW 使用點 polishing 或特定水路改善;實際配置仍需依廠務系統、目標規格與安裝條件確認。

可用於 ICP-MS blank water 的 Boron background reduction 嗎?

可作為 ICP-MS blank 與 trace analysis water 的除硼配置選項,有助於降低 Boron background;建議以前後水樣 ICP-MS 測試確認。

可以做成 cartridge 或 Point-of-Use 模組嗎?

可以,可依流量、停留時間、接口與安裝空間設計為 cartridge、column 或 Point-of-Use module。

除硼效果是否固定保證?

不是固定保證。效果需依進水 Boron 濃度、pH、流量、接觸時間、樹脂量、其他離子與 TOC 等條件評估。

樹脂壽命會受哪些因素影響?

主要包含進水負荷、流速、接觸時間、pH、silica / TOC / ions 組成、系統材質與操作習慣;建議建立定期監測與更換判定。

導入前需要提供哪些水質資料?

建議提供進出水 Boron 歷史資料、目標規格、日用量與尖峰流量、安裝位置、接液材質及既有過濾/樹脂配置資訊。

可與 PuriLab 超純水盒或 1 nm / 5 nm 終端過濾整合嗎?

可,可依應用需求整合除硼樹脂、低金屬拋光介質與終端過濾,形成多段 point-of-use polishing 方案。

是否可提供前後端水樣 ICP-MS 測試?

可依專案需求討論前後端水樣比較與 breakthrough monitoring,協助評估導入效益。

使用除硼樹脂時需要注意哪些系統材質?

建議優先評估 PFA、PP、HDPE 等低溶出接液材質,並檢查管路、接頭與容器是否可能造成二次背景。

詢問除硼樹脂規格 / 報價 / 測試方案

Ultra Trace Analytics 熟悉半導體微污染分析與 ICP-MS 用水痛點,可協助您規劃 UPW boron removal 配置與前後端水質確認流程。